美国MORSTE表面检查灯非常适合半导体晶圆检测,因为大多数光刻胶吸收发生在450nm以下。MF-100SP表面检查灯可快速检查加工表面的瑕疵,灰尘,异物等小至10微米的瑕疵、小颗粒,高强度抗冲击外壳由有阻热材料制造,可长时间工作不产生高温。
MF-100SP绿光表面检查灯标配100瓦聚光灯泡,该灯泡额定寿命为5000小时,灯头连接变压器底座,实现免提操作,使灯头可旋转整整360°,将灯头从底座上拆下以手持增加更活动便捷性
MF-100SP绿光表面检查灯配备黄色滤光片,阻挡500nm以下波长,并产生3条强汞线,分别为543nm、574nm和576nm。高对比度光源用于细微表面颗粒检测。该灯常见可见直径达10微米的颗粒。
美国MORSTE表面检查灯非常适合半导体晶圆检测,因为大多数光刻胶吸收发生在450nm以下。
MF-100SP表面检查灯可快速检查加工表面的瑕疵,灰尘,异物等小至10微米的瑕疵、小颗粒,高强度抗冲击外壳由有阻热材料制造,可长时间工作不产生高温。
表面晶粒检查灯应用:LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查
MF-100SP绿光检查灯的主要特点
·检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等
·快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒
·有效地探测出生产过程是早期的污物,节省生产时间及不必要的成本
·100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱
·黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线,防止产生荧光干扰
·高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子
·灯头人体工学设计,易于操作

MF-100SP绿光检查灯技术规格
| 光源 | 365nm长波紫外线 |
| 功率 | 100W |
| 滤色片 | 黄色 |
| 尺寸 | 灯头 9.75D x 6 Dia。(248 x 152 毫米) 重量:12.5磅(5.67公斤) 绳索长度:8英尺(2.44米) |